| 基于Test Director6和边界扫描的板级测试技术 |
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| 引用本文： | 王欣,李银辉. 基于Test Director6和边界扫描的板级测试技术[J]. 核电子学与探测技术, 2012, 32(8) |
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| 作者姓名： | 王欣 李银辉 |
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| 作者单位： | 中物院电子工程研究所,绵阳,621900 |
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| 摘 要： | 在国内首次介绍了Qmax公司的Test Director6开发工具在JTAG测试中的应用,并首次提出了利用Test Director6进行基于JTAG技术的板级测试方法.实验证明,该方法成熟高效,能有效提高测试效率和测试可靠性,具有较大的实用价值.
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| 关 键 词： | 边界扫描 Test Director6 板级测试 JTAG |
Technique of Board Level Test Based on TestDirector6 and Boundary Scan Technique |
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| WANG Xin , LI Yin-hui. Technique of Board Level Test Based on TestDirector6 and Boundary Scan Technique[J]. Nuclear Electronics & Detection Technology, 2012, 32(8) |
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| Authors: | WANG Xin LI Yin-hui |
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