| ASIC设计中测试矢量产生与验证 |
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| 引用本文： | 居水荣. ASIC设计中测试矢量产生与验证[J]. 半导体技术, 2001, 26(3): 42-47 |
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| 作者姓名： | 居水荣 |
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| 作者单位： | 无锡华晶矽科微电子有限公司设计所，江苏无锡 214061 |
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| 摘 要： | 介绍了ASIC设计过程中测试矢量的产生与验证步骤，包括激励编写规划、波形检查、测试矢量的获得以及测试矢量的验证。
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| 关 键 词： | 专用集成电路设计 验证 测试矢量 激励 波形 |
| 文章编号： | 1003-353X(2001)03-0042-06 |
| 修稿时间： | 2000-06-14 |
Test vectors generation and verification in ASIC design |
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| JU Shui-rong. Test vectors generation and verification in ASIC design[J]. Semiconductor Technology, 2001, 26(3): 42-47 |
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| Authors: | JU Shui-rong |
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| Abstract: | The test vectors generation and verification in ASIC design are introduced, including stimulus writing guidelines, waveform audit, vectors strobe and simulation used for test vectors. |
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| Keywords: | ASIC design test vector stimulus waveform |
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