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基于低缺陷ZnO电子传输层的PbS量子点光电探测器研究
引用本文:田璐璐,刘欢,解飞,邓立儿,文帅.基于低缺陷ZnO电子传输层的PbS量子点光电探测器研究[J].自动化与仪器仪表,2023(3):18-25.
作者姓名:田璐璐  刘欢  解飞  邓立儿  文帅
作者单位:西安工业大学光电工程学院
摘    要:PbS胶体量子点因其光吸收系数高、制备成本低、沉积工艺简单、带隙可调等优点,成为备受关注的新型红外探测纳米材料。光电二极管结构的PbS量子点光电探测器通常使用高透过率、高电子迁移率的ZnO来制备N型层,以加快光生载流子的分离和提取。但是通过溶胶-凝胶法制备的ZnO薄膜在制备过程中会在薄膜中产生缺陷,限制ZnO层性能的发挥。本文通过调节ZnO前驱体溶液的浓度成功制备出缺陷更低的ZnO薄膜并应用于ZnO/PbS光电探测器件,经测试,当溶液浓度为0.7M(mol/L)时,所制备的器件表现出最佳的性能,在1 600 nm处的响应度和探测率分别为0.32A/W和3.48×1011Jones,外量子效率为25%,器件的响应时间为τR=130μs,τF=20μs。这项工作为PbS量子点光电器件性能的优化提供了新的解决方案。

关 键 词:PbS量子点  电子传输层  光电探测器  异质结  ZnO薄膜缺陷
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