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基于热分析的电子元器件可靠性探讨
引用本文:钱俊锋,章云峰,郑荣良,张荣标.基于热分析的电子元器件可靠性探讨[J].微计算机信息,2005(32):161-163.
作者姓名:钱俊锋  章云峰  郑荣良  张荣标
作者单位:1. 212013,江苏,镇江,江苏大学汽车与交通工程学院
2. 212013,江苏,镇江,江苏大学电气信息工程学院
基金项目:江苏省教育厅科研基金资助项目项目编号:00KJD510007
摘    要:介绍了温度对电子设备中一些常见元器件的性能影响.在一种车载电子设备的热设计过程中,根据实测结果分析了CPU、电源模块和外围电路元器件的温度特性,并结合热分析软件进行热优化设计,提高了系统的可靠性.

关 键 词:可靠性  温度特性  热优化设计
文章编号:1008-0570(2005)11-2-0161-03
修稿时间:2005年5月8日

A Preliminary Study on Improving the Reliability of Electronic Components
Qian,Junfeng,Zhang,Yunfeng,Zheng,Rongliang,Zhang,Rongbiao.A Preliminary Study on Improving the Reliability of Electronic Components[J].Control & Automation,2005(32):161-163.
Authors:Qian  Junfeng  Zhang  Yunfeng  Zheng  Rongliang  Zhang  Rongbiao
Abstract:
Keywords:
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