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| 导电硅胶屏蔽效能长期可靠性试验研究 | |
| 引用本文： | 雷震,蒋全兴.导电硅胶屏蔽效能长期可靠性试验研究[J].安全与电磁兼容,2017(4):73-75. |
| 作者姓名： | 雷震 蒋全兴 |
| 作者单位： | 华为技术有限公司;东南大学电磁兼容研究所 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 导电硅胶 屏蔽效能 长期可靠性 加速老化试验 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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