|
|||||
|
|
| 屏蔽盖腔间屏蔽效能的影响因素 | |
| 引用本文： | 雷震,蒋全兴.屏蔽盖腔间屏蔽效能的影响因素[J].安全与电磁兼容,2017(5):79-81. |
| 作者姓名： | 雷震 蒋全兴 |
| 作者单位： | 华为技术有限公司;东南大学电磁兼容研究所 |
| 摘 要： | 提出了一种针对扁平屏蔽腔的屏蔽效能测试方法,并研究了腔间开孔大小、螺钉间距和点胶与否三个因素对屏蔽效能的影响。结果表明:屏蔽盖腔间开孔是导致屏蔽效能下降的最大因素;随着螺钉间距加密屏蔽效能显著提升;要获得大于70 d B的腔间屏蔽效能,推荐采用隔筋点胶。 |
| 关 键 词： | 屏蔽腔 屏蔽效能 测试方法 影响因素 |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ | |