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GexSi1-x材料生长的改善
引用本文:李代宗,于卓,雷震霖,成步文,余金中,王启明.GexSi1-x材料生长的改善[J].材料研究学报,2000,14(2):215-217.
作者姓名:李代宗  于卓  雷震霖  成步文  余金中  王启明
作者单位:1. 中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室
2. 中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室;中国科学院沈阳科学仪器研制中心
基金项目:国家自然科学基金;69896260-06,69746001,69787004;
摘    要:利用超高真空化学相淀积(UHV/CVD)系统在650℃生长出表面光亮的GeSi单晶。在1200L/min分子泵与前级机械泵间串接450L/min分子泵,改善了生长环境。串接分子泵后生长的样品的X射线双晶衍射分析表明,外延层衍射峰半宽仅为198arcsec,且出现了Pendellosung干涉条纹,说明外延层结晶质量很好。

关 键 词:超高真空化学气相淀积  硅化锗材料  晶体生长
文章编号:1005-3093(2000)02-0215-03
修稿时间:1999年3月4日

IMPROVEMENT ON THE GROWTH OF GexSi1-x MATERIAL
LI Daizong,YU Zhuo,LEI Zhenlin,CHENG Buwen,YU Jinzhong,WANG Qiming.IMPROVEMENT ON THE GROWTH OF GexSi1-x MATERIAL[J].Chinese Journal of Materials Research,2000,14(2):215-217.
Authors:LI Daizong  YU Zhuo  LEI Zhenlin  CHENG Buwen  YU Jinzhong  WANG Qiming
Abstract:
Keywords:UHV/CVD  GeSi  DCXRD
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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