| X射线光电子能谱测定元素化学态的常见问题探讨 |
| |
| 引用本文： | 丁小艳,武晓,娄金分,曾淦宁,艾宁.X射线光电子能谱测定元素化学态的常见问题探讨[J].广州化工,2020,48(16):85-87. |
| |
| 作者姓名： | 丁小艳 武晓 娄金分 曾淦宁 艾宁 |
| |
| 作者单位： | 贵州省材料产业技术研究院, 贵州 贵阳 550022,贵州省材料产业技术研究院, 贵州 贵阳 550022,贵州省材料产业技术研究院, 贵州 贵阳 550022,浙江工业大学化学工程学院, 浙江 杭州 310014,浙江工业大学化学工程学院, 浙江 杭州 310014 |
| |
| 基金项目： | 黔科合平台人才项目[(2018)5715;黔科合基础(2018)1089号 |
| |
| 摘 要： | X射线光电子能谱(XPS)是一种表面灵敏的定量谱学技术,可以用于分析材料中存在的元素(除氢、氦)构成以及元素的化学态和电子态,是研究原子、分子及固体材料的一种有力工具。XPS在分峰拟合过程中,半峰宽、峰面积、峰间距以及已有的实验结果的归纳均会影响分峰结果的准确性。以一种新型复合材料-纳米零价铁活性炭(NZVI/AC)为例,通过XPS分析其去除水中Cr(Ⅵ)过程中材料表面的元素价态变化,探讨分峰过程中常见的错误对实验结果造成的影响。
|
| 关 键 词： | X射线光电子能谱(XPS) 分峰 化学价态 |
Discussion on Common Problems in Determination of Chemistry States of Elements by X-ray Photoelectron Spectroscopy ( XPS) |
| |
| DING Xiao-yan,WU Xiao,LOU Jin-fen,ZENG Gan-ning,AI Ning.Discussion on Common Problems in Determination of Chemistry States of Elements by X-ray Photoelectron Spectroscopy ( XPS)[J].GuangZhou Chemical Industry and Technology,2020,48(16):85-87. |
| |
| Authors: | DING Xiao-yan WU Xiao LOU Jin-fen ZENG Gan-ning AI Ning |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
|
