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| 表面分析仪器和技术进展：四.扫描探计显微术（SPM）（下） | |
| 引用本文： | 黄惠忠.表面分析仪器和技术进展：四.扫描探计显微术（SPM）（下）[J].国外分析仪器技术与应用,1999(2):1-20. |
| 作者姓名： | 黄惠忠 |
| 摘 要： | 本文主要介绍近年来ＳＰＭ技术系列具有方向的研究的进展，评述了ＳＰＭ技术进展，针尖和悬臂，校正和计量学，力的测量和物理性质，化学鉴别和变温等，此外，还评述了新的探针技术，摩擦力，扫描热，磁共振力，磁力，光扫描隧道，近场扫描光学，扫描电容，弹道式电子发射，扫描电化学以及春它探针显微镜等，最后评述了诸多应用领域，如：电化学扫描探针显微学，烷烃硫醇；Ｌ－Ｂ膜，生物学，核酸，蛋白质，细胞，类脂体，生命医学， |
| 关 键 词： | SPM 表面分析仪器 表面分析技术 |
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