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High-k材料MOS器件的PISCES-II模拟
作者姓名:陈震  向采兰  余志平
作者单位:清华大学微电子学研究所 北京100084(陈震,向采兰),清华大学微电子学研究所 北京100084(余志平)
基金项目:国家重点基础研究973项目(GG200036502)
摘    要:High-k材料是指介电常数k高于SiO2的材料。使用high-k材料做栅绝缘层,是减小MOS器件栅绝缘层直接隧道击穿(DirectTunneling,DT)电流的有效方法。文章在二维器件模拟软件PISCES-II中添加了模拟以high-k材料为栅绝缘层的MOS器件模型,并对SiO2和high-k材料的MOS晶体管器件特性进行了模拟比较,成功地验证了所加high-k材料MOS器件模型的正确性。改进后的PISCES-II程序,可以方便地对以各种high-k材料为栅绝缘层的器件性能进行模拟。

关 键 词:器件模拟  MOS器件  隧道击穿  high-k
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