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| S-TTL和ECL电路性能分析及其发展趋向 | |
| 引用本文： | 卢克盛.S-TTL和ECL电路性能分析及其发展趋向[J].计算机工程,1978(4). |
| 作者姓名： | 卢克盛 |
| 摘 要： | 电子计算机的发展历史是与其选用怎样的元器件构成数字逻辑电路紧密相关的。电子计算机已经历从电子管到晶体管再到集成电路的三个发展阶段。大规模集成电路的各类计算机已研制成功,现在正从大规模集成电路计算机向完善的第四代超大规模集成电路计算机的方向发展。由于大规模集成电路的应用,大大提高了计算机系统的处理功能和机器的可靠性,而大规模集成电路或超大规模集成电路本身,无非是在几毫米或十几 |
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