一种安全可控的SoC可测性设计 |
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作者姓名: | 王新成 孙宏 蔡吉仁 杨义先 |
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作者单位: | 北京邮电大学,信息安全中心,北京,100876;北京邮电大学,信息安全中心,北京,100876;北京邮电大学,信息安全中心,北京,100876;北京邮电大学,信息安全中心,北京,100876 |
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基金项目: | 国家重点集成研究发展规划;国家自然科学基金;国家自然科学基金 |
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摘 要: | 提出了一种安全可控的可测性设计DFT(DesignForTest)。DFT既能够完成对SoC的测试,又能保障SoC自身敏感信息和关键技术的安全。
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关 键 词: | 可测性设计 集成电路 微系统芯片 |
修稿时间: | 2006-07-12 |
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