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一种安全可控的SoC可测性设计
作者姓名:王新成  孙宏  蔡吉仁  杨义先
作者单位:北京邮电大学,信息安全中心,北京,100876;北京邮电大学,信息安全中心,北京,100876;北京邮电大学,信息安全中心,北京,100876;北京邮电大学,信息安全中心,北京,100876
基金项目:国家重点集成研究发展规划;国家自然科学基金;国家自然科学基金
摘    要:提出了一种安全可控的可测性设计DFT(DesignForTest)。DFT既能够完成对SoC的测试,又能保障SoC自身敏感信息和关键技术的安全。

关 键 词:可测性设计  集成电路  微系统芯片
修稿时间:2006-07-12
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