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| 玉米SSR连锁图谱构建及抗纹枯病基因定位 | |
| 引用本文： | 赵茂俊,张志明,张世煌,李晚忱,潘光堂. 玉米SSR连锁图谱构建及抗纹枯病基因定位[J]. 高技术通讯, 2005, 15(5): 71-76 |
| 作者姓名： | 赵茂俊 张志明 张世煌 李晚忱 潘光堂 |
| 作者单位： | 1. 四川农业大学玉米研究所,四川雅安,625014 2. 中国农业科学院,北京,100081 3. 国际玉米小麦改良中心 |
| 基金项目： | 863计划项目 (2 0 0 3AA2 0 70 70 )，亚洲玉米生物技术协作网 (AMBIONET)资助项目 |
| 摘 要： | 以玉米自交系R15 (抗)×4 78(感)的F2 分离群体(2 2 9个单株)为作图群体,构建了包含14 6个SSR标记位点的遗传连锁图谱,覆盖玉米基因组16 6 6cM ,平均图距11.4cM。通过麦粒嵌入法对2 2 9个F2∶4 家系进行人工接种纹枯病菌,并采用相对病斑高(绝对病斑高除以穗位高)划分病级标准进行玉米纹枯病的抗性鉴定。应用复合区间作图法分析抗病QTL(数量性状基因座位)及遗传效应。结果共检测到6个抗性QTL ,分别位于第2、6、10染色体上,与标记Umc2 110、Bnlg16 0 6、Umc2 110、Bnlg15 38、Umc12 5 7和Phi0 5 4连锁,各自可解释表型变异的10 35 %、4 0 9%、8 33%、5 18%、5 12 %和4 18%。这些抗性QTL与控制株高和穗位高的基因之间表现为独立遗传。 |
| 关 键 词： | SSR 基因定位 图谱构建 数量性状基因座位 复合区间作图法 遗传连锁图谱 玉米自交系 玉米纹枯病 QTL 作图群体 分离群体 标记位点 纹枯病菌 人工接种 抗性鉴定 遗传效应 表型变异 穗位高 基因组 嵌入法 染色体 F2 病斑 |
Quantitative trait loci mapping of resistance to banded leaf and sheath blight in maize |
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| Zhao Maojun,Zhang Zhiming,Zhang Shihuang,Li Wanchen,Maria Luz C.George,Pan Guangtang. Quantitative trait loci mapping of resistance to banded leaf and sheath blight in maize[J]. High Technology Letters, 2005, 15(5): 71-76 | |
| Authors: | Zhao Maojun Zhang Zhiming Zhang Shihuang Li Wanchen Maria Luz C.George Pan Guangtang |
| Abstract: | |
| Keywords: | maize BLSB resistance SSR marker genetic linkage map QTL location |
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