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微波炉用磁控管碳化钍钨阴极断裂失效分析
引用本文:葛春桥,胡再兴,吴楚.微波炉用磁控管碳化钍钨阴极断裂失效分析[J].真空电子技术,2013(5):103-105.
作者姓名:葛春桥  胡再兴  吴楚
作者单位:广东威特真空电子制造有限公司,广东佛山528311
摘    要:本文采用扫描电镜、X射线残余应力分析仪、金相显微镜等工具分析了微波炉用磁控管碳化钍钨阴极的断裂失效机理,碳化后钍钨阴极较粗大的晶粒与内应力是其断裂的主要原因。

关 键 词:断裂机理  内应力  阴极断裂

Fracture Failure Analysis of a Magnetron Carbonized Thoriated Tungsten Cathode of Microwave Oven
GE Chun-qiao,HU Zai-xing,WU Chu.Fracture Failure Analysis of a Magnetron Carbonized Thoriated Tungsten Cathode of Microwave Oven[J].Vacuum Electronics,2013(5):103-105.
Authors:GE Chun-qiao  HU Zai-xing  WU Chu
Affiliation:(GD Wital Vacuum Electronic Manufacture Co. ,Ltd, Foshan 528311, China)
Abstract:In this paper, the fracture mechanism of the thoriated tungsten cathode is analyzed systemat-ically by SEM, metallographic analysis, X ray residual stress analyzer. Coarse grains and largeresidual stress of carbonized thoriated tungsten cathode is the main fracture reason.
Keywords:Fracture mechanism  Residual stress  Cathode fracture
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