| In_(1-x)Al_xSb外延层的E_1和E_1+Δ_1的光调制反射光谱研究 |
| |
| 作者姓名： | 徐尧洲 Y.Beaulieu J.B.Webb |
| |
| 作者单位： | 上海建材学院基础课部，Institute for Microstructural Science，National Research Council of Canada，M-50 Montreal Road，Ottawa K1A OR6，Canada，Institute for Microstructural Science，National Research Council of Canada，M-50 Montreal Road，Ottawa K1A OR6，Canada 上海 200434 |
| |
| 摘 要： | 首次用光调制反射光谱的实验测量方法,在～10K下对In_(1-x)Al_xSb(0≤x≤0.55)外延层的光跃迁E_1和E_1+△_1及其谱线展宽ω,进行实验测定。由测定结果,得到对E_1和E_1+△_1的弯曲参数分别为0.752eV和0.723eV。
|
| 关 键 词： | 外延层 光调制反射光谱 弯曲参数 谱线展宽 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《红外与毫米波学报》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《红外与毫米波学报》下载全文 |
|
