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氩气压强对PET基磁控溅射银膜结构及导电性能的影响
引用本文:洪剑寒,王鸿博,魏取福. 氩气压强对PET基磁控溅射银膜结构及导电性能的影响[J]. 材料导报, 2006, 20(Z2): 83-85
作者姓名:洪剑寒  王鸿博  魏取福
作者单位:江南大学生态纺织科学与技术教育部重点实验室,无锡,214122
基金项目:教育部科学技术研究重点项目
摘    要:在室温条件下,采用磁控溅射法在PET纺粘非织造布上制备了纳米Ag薄膜,用原子力显微镜(AFM)表征磁控溅射真空室压强对纳米Ag薄膜结晶状态、粒径的影响;研究了溅射工艺参数与薄膜导电性能之间的关系.实验结果表明:在该实验范围内溅射速率随压强的增大先增大后减小;薄膜方块电阻的变化规律与溅射速率的变化规律一致;薄膜颗粒直径随压强的增大先增大后减小,但在压强大于1.5Pa时,薄膜颗粒直径随压强变化未呈现明显的变化规律.

关 键 词:磁控溅射  薄膜  原子力显微镜  纳米结构  导电性能

Effect of Ar''''s Pressure on Microstructure and Conductivity of Nano-structured Silver Films Deposited on PET by Magnetron Sputtering
HONG Jianhan,WANG Hongbo,WEI Qufu. Effect of Ar''''s Pressure on Microstructure and Conductivity of Nano-structured Silver Films Deposited on PET by Magnetron Sputtering[J]. Materials Review, 2006, 20(Z2): 83-85
Authors:HONG Jianhan  WANG Hongbo  WEI Qufu
Abstract:
Keywords:magnetron sputtering   thin films   AFM   nano-structure   conductivity
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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