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| Cortex-M3的SRAM单元故障软件的自检测研究 | |
| 引用本文： | 孙伟旺,孙利锋.Cortex-M3的SRAM单元故障软件的自检测研究[J].单片机与嵌入式系统应用,2011,11(7):67-68. |
| 作者姓名： | 孙伟旺 孙利锋 |
| 作者单位： | 贵州大学电气工程学院，贵阳，550003 |
| 摘 要： | 引言目前,对于存储单元SRAM的研究都是基于硬件电路来完成,而且这些方法都是运用在生产过程中,但是生产过程并不能完全杜绝SRAM的硬件故障。在其使用过程中,如果SRAM硬件出错,将导致程序出错而且很难被发现。因此在运用的阶段,为防止存储单元损坏而导致系 |
| 关 键 词： | 存储单元 生产过程 硬件故障 使用过程 检测软件 硬件电路 入口地址 系统复位 检测研究 子程序 |
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