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三维微触觉MEMS传感器测试校准的方法与系统
引用本文:赵大博,栗大超,李源,傅星,胡小唐. 三维微触觉MEMS传感器测试校准的方法与系统[J]. 传感技术学报, 2006, 19(5): 1504-1508
作者姓名:赵大博  栗大超  李源  傅星  胡小唐
作者单位:天津大学测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072;天津大学测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072;天津大学测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072;天津大学测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072;天津大学测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072
摘    要:针对微纳测量领域的需要,设计了一种三维微触觉MEMS传感器.为了标定该传感器的性能参数,提出了以高精度纳米测量机(NMM)为核心的测试校准方法;加工了NMM测头模块;制作了压阻信号调理和采集电路;搭建了测试校准系统.该系统具有移动范围大,精度高,更换方便,易于控制和记录数据等特点.利用它对传感器在Z轴方向的输出作校准,结果证实校准曲线线性良好,传感器在三个方向上耦合很小,其Z方向测量分辨力能够达到30 nm,迟滞性小于±0.05%.

关 键 词:MEMS  坐标测量机  纳米定位  微触觉传感器  测试  校准
文章编号:1004-1699(2006)05-1504-05
修稿时间:2006-07-01

The Method and System for Testing and Calibration of Three-dimensional Micro Tactile MEMS Sensor
Zhao Dabo,Li Dachao,Li Yuan,Fu Xing,Hu Xiaotang. The Method and System for Testing and Calibration of Three-dimensional Micro Tactile MEMS Sensor[J]. Journal of Transduction Technology, 2006, 19(5): 1504-1508
Authors:Zhao Dabo  Li Dachao  Li Yuan  Fu Xing  Hu Xiaotang
Affiliation:State Key Laboratory of Precision Measuring Technology and Instruments, Tianjin University, Tianjin 300072, China
Abstract:
Keywords:MEMS
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