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薄层的复数地震道分析
引用本文:J.D.罗伯森,H.H.诺加米,徐岩盛.薄层的复数地震道分析[J].勘探地球物理进展,1986(1).
作者姓名:J.D.罗伯森  H.H.诺加米  徐岩盛
摘    要:复数道特征的显示能够帮助我们确定地震剖面中的薄层。如果一个剖面中的子波是零相位子波,那么厚度约为主地震能量半个周期的低阻抗层将会在瞬时振幅剖面上对应出现异常高的振幅带。这些异常是由众所周知的振幅调谐效应产生的,这种调谐效应是当反射系数为反极时半个周期相距与一个地震子波褶积发生的。当这些层的厚度从1/2周期变至主地震能量的1/4周期,则瞬时频率的异常随之增加。这个特点虽很少被人知道,但十分重要,这个特点是由层横向变薄调谐的频率现象产生的.当层的厚度大约为1/4周期时,瞬时频率达到一个非常高的值,随着地层继续变薄,这个高瞬时频率保持不变.本文中,复数道分析被应用于一个楔形合成模型和一组野外采集的描述多孔砂岩薄透镜体的宽频带数据中。对这两种情况研究表明:当在常规剖面上薄层的分辨不明显时,特征显示的记录能够被用来核实薄层的大小和存在。

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