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Ga-In-As-Sb合金半导体MOCVD外延工艺设计的热力学分析
引用本文:张维敬,杜振民,李长荣,刘国权.Ga-In-As-Sb合金半导体MOCVD外延工艺设计的热力学分析[J].材料热处理学报,1997(3).
作者姓名:张维敬  杜振民  李长荣  刘国权
作者单位:北京科技大学材料科学与工程学院
基金项目:国家863高技术研究发展计划资助
摘    要:用亚点阵模型和络合物模型描述ⅢⅤ族半导体MOCVD生长过程中涉及的凝聚相及气相的热力学性质,以系统最小自由焓为相平衡判据;用CALPHAD技术,计算了包括复杂化学反应的多元复相体系的相图和有关相平衡信息;对多元化合物的成分空间及相应的点阵常数、能带间隙和自由焓等性质在该空间的表达提出了规范性模式。结合编建的CHAlGaInPAsSb体系热力学数据库,对ⅢⅤ族合金半导体MOCVD、MBE和LPE工艺的计算机辅助设计具有重要作用。

关 键 词:Ⅲ-Ⅴ族半导体  化学气相沉积  热力学分析

Thermodynamic Analysis of MOCVD Epitaxy Process Design for Ga In As Sb Alloy Semiconductor
Affiliation:University of Science and Technology Beijing
Abstract:
Keywords:
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