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O2含量对Si/NiO:Na异质pn结的光电性能影响
引用本文:李彤,王铁钢,王达夫,倪晓昌,赵新为. O2含量对Si/NiO:Na异质pn结的光电性能影响[J]. 光电子.激光, 2015, 26(2): 284-287
作者姓名:李彤  王铁钢  王达夫  倪晓昌  赵新为
作者单位:天津职业技术师范大学 电子工程学院,天津 300222;天津职业技术师范大学 电子工程学院,天津 300222;天津职业技术师范大学 电子工程学院,天津 300222;天津职业技术师范大学 电子工程学院,天津 300222;天津职业技术师范大学 电子工程学院,天津 300222 ;东京理科大 学 物理系,162-8601
基金项目:天津市教委(20120710,20110711)资助项目 (1.天津职业技术师范大学 电子工程学院,天津 300222; 2.东京理科大学 物理系,162-8601)
摘    要:利用磁控溅射方法在n型Si衬底上制备了NiO:Na薄膜构成异质pn结,并研究了其光电特性。 实验结果表明,当O2/Ar+O2比例从0%升高到30%时,Si/NiO:Na的pn结表现出最佳整流特性,正向开启电压达到 4.9V时才出现漏 电流。这可能是由于NiO:Na薄膜结晶度得到改善,薄膜内缺陷减少所致。继续增加O2/Ar+ O2比例,薄膜 结晶质量转差,相应也削弱了其整流特性,这一结果得到X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(A FM)和紫外(UV)透射结果的充分支持。

关 键 词:NiO  Na 掺杂  pn结  磁控溅射  整流特性
收稿时间:2014-11-14

Effect of O2content on optical and electrical properties of Si/NiO:Na pn heterojunction
LI Tong,WANG Tie-gang,WANG Da-fu,NI Xiao-chan g and ZHAO Xin-wei. Effect of O2content on optical and electrical properties of Si/NiO:Na pn heterojunction[J]. Journal of Optoelectronics·laser, 2015, 26(2): 284-287
Authors:LI Tong  WANG Tie-gang  WANG Da-fu  NI Xiao-chan g  ZHAO Xin-wei
Affiliation:School of Electronics Engineering,Tianjin University of Technology and Educ ation,Tianjin 300222,China;School of Electronics Engineering,Tianjin University of Technology and Educ ation,Tianjin 300222,China;School of Electronics Engineering,Tianjin University of Technology and Educ ation,Tianjin 300222,China;School of Electronics Engineering,Tianjin University of Technology and Educ ation,Tianjin 300222,China;School of Electronics Engineering,Tianjin University of Technology and Educ ation,Tianjin 300222,China ;Department of Physics,Tokyo University of Science, Tokyo 162-8601,Japan
Abstract:
Keywords:NiO   Na doping   pn junction   magnetron sputtering   rectifying property
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