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STS2100系列电子元器件测试系统
引用本文:孙铣.STS2100系列电子元器件测试系统[J].世界电子元器件,1999(8):58-61.
作者姓名:孙铣
作者单位:北京华峰测控技术公司
摘    要:STS 2100系统是北京华峰测控技术公司自行研制开发的系列化电子元器件测试系统,本文结合该系统的总体设计思想,分析、比较探讨了各类小型智能化电子元器件测试系统的特点,并对测试系统如何适合我国国情的问题提出了看法。

关 键 词:电子元器件  测试系统  STS2100系列
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