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二维几何尺寸非接触测量的边缘检测
引用本文:燕必希,周长凯.二维几何尺寸非接触测量的边缘检测[J].北京机械工业学院学报,2002,17(4):30-33.
作者姓名:燕必希  周长凯
作者单位:北京机械工业学院 电子信息工程系,北京机械工业学院 电子信息工程系 北京100085,北京100085
摘    要:主要分析了边缘检测的一些典型算法在二维几何尺寸非接触测量应用中的优劣,并得出经Robert边缘检测算子处理后的图像最适宜用于二维几休尺寸的非接触测量。在此基础上又给出了一种二维尺寸非接触测量的三镒平均数据处理方法。方法有铲地消除了拾取边界点时带来的误差,同时在拍摄被测物的图像时,在被测物的横断面内对被测物的旋转定位没有要求。方法对二维几何尺寸CCD非接触测量具有一定的通用性。

关 键 词:非接触测量  边缘检测  二维测量  CCD  尺寸检测
文章编号:1008-1658(2002)04-0030-04
修稿时间:2002年7月11日

Application of non-touching measurement in edge detection
Abstract:
Keywords:edge detection  two-dimension measurement  CCD  non-touching  
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