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一种预测磁光盘可靠寿命的方法
引用本文:姜书艳,刘素环. 一种预测磁光盘可靠寿命的方法[J]. 电子科技大学学报(自然科学版), 2000, 29(2): 182-185
作者姓名:姜书艳  刘素环
作者单位:1.电子科技大学自动化系 成都 610054
摘    要:提出了利用威布尔分布参数的图分析法预测磁光盘可靠寿命的方法,克服了以往仅针对单一或特定结构的分析,将磁光盘作为一个系统来综合考察,以误码率作为磁光盘的失效判据,通过对磁光盘两个温度点的高温恒定应力加速寿命试验结果的分析,计算出了磁光盘在25℃正常大气条件下的可靠寿命。

关 键 词:磁光盘   加速寿命测试   威布尔分布   可靠性
收稿时间:1999-11-02

A Way of Calculating Reliable Service Life of MO Disks
Jiang Shuyan,Liu Suhuan. A Way of Calculating Reliable Service Life of MO Disks[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2000, 29(2): 182-185
Authors:Jiang Shuyan  Liu Suhuan
Affiliation:1.Dept. of Automation,UEST of China Chenghu 610054
Abstract:This paper presents a method of calculating the reliable service life of magneto-optic disks by way of analyzing figures of weibull parameters,which overcome the analysis of only one or definite construction of MO disks before. In this method, MO disk is considered as a whole system and the invalid of BER is taken into account. The reliable service life of MO disks is calculated at normal atmosphere by means of analyzing the experiments result which is concluded by acceleration experiments of high temperature.
Keywords:
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