基于迭代法及腐蚀算法的超声相控阵缺陷提取

为解决超声相控阵检测时噪声干扰及仪器精度造成的缺陷提取困难等问题,提出了一种基于迭代法及腐蚀算法的超声相控阵B扫图像缺陷提取方法。以轮辋试块侧通孔的超声相控阵B扫图像为对象,结合迭代法与腐蚀算法,研究了超声相控阵图像缺陷提取及量化方法,并与传统迭代法、Otsu法、Bernsen法进行对比,且讨论了相控阵检测时检测孔径对提取的缺陷特征值精度的影响。结果显示孔径大于20时,采用迭代法与腐蚀算法相结合提取的缺陷特征值相对误差均小于12%,且远小于采用传统迭代法、Otsu法、Bernsen法提取的相对误差。随着检测孔径增大,检测精度提高,但提高的速度在减缓。研究结果对改善超声相控阵检测成像质量,提高缺陷特征提取及量化精度提供了参考。