THLC-2型液晶特性测试仪的研制 |
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引用本文: | 雷有华,张百哲,梁振波,蔡霞.THLC-2型液晶特性测试仪的研制[J].电子技术应用,1999,25(11):35-37. |
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作者姓名: | 雷有华 张百哲 梁振波 蔡霞 |
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作者单位: | 清华大学电子工程系北京清华液晶技术工程研究中心,100084 |
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摘 要: | 介绍THLC-2型液晶特性测试仪,该测试系统应用程序通过驱动步进电机的专用插卡实现对样品的入射光线角度和接收光线角度的控制;通过RS232-C串行通讯口与THLC-2型液晶特性测试仪实现通讯,可进行测试条件预置、测试数据采集、测试数据后处理等功能。外接打印机,可打印各种曲线和参数。
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关 键 词: | 液晶特性 测试仪器 智能仪器 |
修稿时间: | 1999年5月12日 |
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