MLC型NAND闪存的比特翻转译码算法研究 |
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作者单位: | ;1.西安理工大学 |
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摘 要: | 随着闪存编程/擦除循环次数的增加,多级单元(Multi-Level Cell,MLC)的氧化隔离层被破坏,进而导致闪存的可靠性急剧降低。针对这种情况,在深入分析MLC闪存信道模型和数据保持噪声模型的基础上,提出了一种MLC型NAND闪存的比特翻转译码算法。仿真结果表明,在MLC闪存信道下,该方法既可保证闪存单元的可靠性,又具有较短闪存单元的读取时间,从而实现了译码复杂度和性能间的良好折衷。
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关 键 词: | 多级单元 低密度奇偶校验码 比特翻转译码算法 |
Research on bit-flipping decoding algorithm for MLC NAND Flash memory |
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