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| 大规模集成电路的可测性技术研究 | |
| 引用本文： | 周亚丽,徐德生,武乾文.大规模集成电路的可测性技术研究[J].集成电路应用,2003(10):69-71. |
| 作者姓名： | 周亚丽 徐德生 武乾文 |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第58研究所 |
| 摘 要： | 集成电路测试和设计技术是集成电路的主要核心技术，而可测性设计技术是集成电路测试和设计这两大核心技术的复合技术或边缘技术，本文主要介绍了大规模集成电路的可测性设计技术。 |
| 关 键 词： | 大规模集成电路 可测性设计 边界扫描 内建自测试 故障覆盖率 |
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