AIInGaN/GaN PIN紫外光电探测器的研制 |
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引用本文: | 黄瑾,洪灵愿,刘宝林,张保平.AIInGaN/GaN PIN紫外光电探测器的研制[J].半导体光电,2008,29(5). |
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作者姓名: | 黄瑾 洪灵愿 刘宝林 张保平 |
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作者单位: | 厦门大学物理系,福建厦门361005 |
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摘 要: | 用AlInGaN四元合金代替AlGaN作为PIN探测器的有源层,研制出AlInGaNPIN紫外探测器。详细介绍了该器件的结构设计和制作工艺,并对器件进行了光电性能测试。测试结果表明,器件的正向开启电压约为1.5V,反向击穿电压大于40V;室温-5V偏压下,暗电流为33pA,350nm处峰值响应度为0.163A/W,量子效率为58%。
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关 键 词: | AlInGaN/GaN PIN光电探测器 紫外光电探测器 |
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