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Tc-P共掺杂单层MoS2光电特性的第一性原理计算
引用本文:范梦慧,谢泉,岑伟富,蔡勋明,骆最芬,郭笑天,闫万珺.Tc-P共掺杂单层MoS2光电特性的第一性原理计算[J].半导体光电,2015,36(4):582-587.
作者姓名:范梦慧  谢泉  岑伟富  蔡勋明  骆最芬  郭笑天  闫万珺
作者单位:贵州大学电子信息学院,贵阳550025;贵州民族大学理学院,贵阳550025;贵州大学电子信息学院,贵阳,550025;贵州民族大学理学院,贵阳,550025
基金项目:贵州省科技厅创新人才基金项目[黔科合J字(2011)4002];贵州省科学技术基金项目[黔科合J字LKM(2013)15]
摘    要:采用第一性原理的赝势平面波方法,对比研究了未掺杂和掺杂过渡金属Tc、非金属P及Tc-P共掺杂的单层MoS2的电子结构和光学性质.计算结果表明:掺杂改变了费米面附近的电子结构,使得导带向低能方向偏移,并且带隙由K点转化为Γ点,形成Γ点的直接带隙半导体.掺杂P使带隙值变小,形成p型半导体;掺杂Tc使带隙变宽,形成n型半导体;Tc-P共掺杂,由于p型和n型半导体相互调制,使得单层MoS2转变为性能更优的本征半导体;掺杂使光跃迁强度减小,且向低能方向偏移.

关 键 词:电子结构  光学性质  第一性原理  掺杂  MoS2
收稿时间:2014/5/12 0:00:00

First-principles Calculation of Optical-Electrical Properties of Single-layer MoS2 with Tc-P Doping
Abstract:
Keywords:electronic structures    optical properties    first-principles    doping    MoS2
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