TE光电阴极制作技术的研究 |
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引用本文: | 李相民,侯洵.TE光电阴极制作技术的研究[J].半导体技术,1995(4):26-28. |
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作者姓名: | 李相民 侯洵 |
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作者单位: | 中国科学院西安光学精密机械研究所,西安半导体光电器件研究室 |
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摘 要: | 对TE光电阴极制作工艺中存在的肖特基结热退化现象以及为了实现TE阴极器件化,设计了超高真空激活系统和制作工艺流程,并采用PECVD-Si3N4绝缘膜和多次蒸银方法彻底消除了热退化现象,从而实现在真空系统内场助电极的原位连接和阴极的激活,为实现TE光电阴极器件的分离打下基础。
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关 键 词: | 肖特基结 PECVD TE光电阴极 制作 四氮化三硅 |
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