| 砷化镓微波单片集成电路可靠性预计模型研究 |
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| 引用本文： | 王蕴辉,莫郁薇,吴海东,张增照,古文刚,聂国健. 砷化镓微波单片集成电路可靠性预计模型研究[J]. 电子产品可靠性与环境试验, 2007, 25(2): 43-48 |
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| 作者姓名： | 王蕴辉 莫郁薇 吴海东 张增照 古文刚 聂国健 |
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| 作者单位： | 信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610 |
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| 摘 要： | 在对微波单片集成电路（MMIC）的失效模式和失效机理进行分析的基础上，提出了砷化镓微波单片集成电路（GaAsMMIC）的可靠性预计数学模型，并通过加速寿命试验确定了产品的基本失效率和预计模型温度系数πT0在大量统计工艺数据和文献数据的基础上，获得了可靠性预计模型中的其它系数。
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| 关 键 词： | 微波单片集成电路 可靠性预计 寿命试验 |
| 文章编号： | 1672-5468(2007)02-0043-06 |
| 修稿时间： | 2007-02-07 |
The Research on Reliability Prediction Model for MMIC |
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| WANG Yun-hui,MO Yu-wei,WU Hai-dong,ZHANG Zeng-zhao,GU Wen-gang,NIE Guo-jian. The Research on Reliability Prediction Model for MMIC[J]. Electronic Product Reliability and Environmental Testing, 2007, 25(2): 43-48 |
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| Authors: | WANG Yun-hui MO Yu-wei WU Hai-dong ZHANG Zeng-zhao GU Wen-gang NIE Guo-jian |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | MMIC reliability prediction life testing |
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