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氧化钨纳米线修饰多孔硅结构的制备及NO2气敏性能研究
作者姓名:胡明  秦岳  赵博硕  强晓永  周立伟
作者单位:天津大学微电子学院,天津,300072;天津大学微电子学院,天津,300072;天津大学微电子学院,天津,300072;天津大学微电子学院,天津,300072;天津大学微电子学院,天津,300072
基金项目:国家自然科学基金面上项目(61271070)
摘    要:针对多孔硅气敏传感器在室温下对NO2气体灵敏度较低、选择性不强的问题,采用双槽电化学腐蚀法制备多孔硅,然后在多孔硅顶部溅射沉积金属钨薄膜并经高温热处理氧化形成WO3纳米线,制备出WO3纳米线修饰多孔硅结构及其气敏传感器,对WO3纳米线/多孔硅材料进行了SEM和XRD分析,测试了传感器室温下对NO2的气敏特性。结果表明,制备WO3纳米线的最佳热处理条件是700℃,此温度下增加金属钨膜溅射时间可提升WO3纳米线的生长密度? 所制备的传感器对NO2气体表现出反型气敏响应,特别是溅射1min金属钨的样品显示出优异的NO2室温探测能力与选择性,对4×10-6NO的气敏灵敏度是单纯多孔硅样品的 5.8倍。

关 键 词:气体传感器  复合结构  多孔硅  氧化钨  二氧化氮
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