| 微米级金属箔电导率无损测试 |
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| 引用本文： | 杨蕴帆,姚松松,刘悦,范同祥.微米级金属箔电导率无损测试[J].有色金属工程,2023(9). |
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| 作者姓名： | 杨蕴帆 姚松松 刘悦 范同祥 |
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| 作者单位： | 上海交通大学,上海交通大学,上海交通大学,上海交通大学 |
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| 摘 要： | 高导电性薄金属箔电导率难以准确测定一直是该研究领域的痛点问题。本文研究了金属箔厚度对超薄金属箔-空气界面电场反射、金属箔表面阻抗、涡流线圈阻抗的影响，进而提出了一种适用于厚度小于100 μm金属箔的电导率无损测试新方法。新方法利用两片厚度不同的同种金属箔定义了“厚度系数”，从而规避了界面处电场反射对测试的影响。研究结果表明新方法可应用到银、铜、铜铬锆箔等电导率处于80-110% IACS范围内的箔类材料，测试偏差可控制在~3%以内，且可以通过厚度设计缩小误差至小于2% IACS，远小于叠层结构法误差（~20%）。该研究将有助于完善科学研究和工业领域所需要的高导电超薄金属箔测试标准。
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| 关 键 词： | 电导率 涡流法 反射电场 金属-空气界面 表面阻抗 |
| 收稿时间： | 2023/4/26 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2023/5/15 0:00:00 |
Determining electrical conductivity of thin metal foils with micron-level thickness by an eddy current non-destructive method |
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| Yang Yunfan,Yao Songsong,Liu Yue and Fan Tongxiang.Determining electrical conductivity of thin metal foils with micron-level thickness by an eddy current non-destructive method[J].Nonferrous Metals Engineering,2023(9). |
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| Authors: | Yang Yunfan Yao Songsong Liu Yue and Fan Tongxiang |
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| Affiliation: | Shanghai Jiao Tong University,Shanghai Jiao Tong University,Shanghai Jiao Tong University,Shanghai Jiao Tong University |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Electrical conductivity eddy-current method electric field reflections metal-air interface sheet impedance |
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