| 基于BIT的PXI总线导弹测试系统设计 |
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| 引用本文： | 薛艳,赵利军,江浩,顾欣. 基于BIT的PXI总线导弹测试系统设计[J]. 计算机测量与控制, 2010, 18(6) |
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| 作者姓名： | 薛艳 赵利军 江浩 顾欣 |
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| 作者单位： | 1. 第二炮兵工程学院,陕西,西安,710025
2. 西北农林科技大学,陕西,西安,712100 |
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| 摘 要： | BIT和ATE已成为提高复杂系统测试性、维修性的有效途径;PXI总线被广泛地应用于自动化测试领域;在资源配置、模块设计、系统设计、兼容性设计、容差设计等方面的分析基础上,该论文提出了一般性BIT和ATE设计的原则;对导弹测试发射控制系统基于BIT和ATE的PXI总线一体化设计进行了研究,给出了系统级测试结构图和电路板级测试结构图,以及软件的总体设计;该技术的应用将进一步推动导弹测试发射控制系统的智能化、通用化和小型化,从而提高导弹的整体性能.
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| 关 键 词： | 机内测试BIT PXI总线 边界扫描 测试发射控制 |
Design on Missile Testing Systems in PXI Buses Based on BIT |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ATE |
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