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| 基于OCT技术对古代瓷釉断面结构特征的初步研究 | |
| 作者姓名： | 严鑫 董俊卿 李青会 郭木森 胡永庆 |
| 作者单位： | 中国科学院上海光学精密机械研究所科技考古中心;中国科学院大学;河南省文物考古研究院; |
| 基金项目： | 国家973计划(2012CB720906,2012CB720901);上海市研发平台专项项目(13DZ2295800) |
| 摘 要： | 为了验证将光学相干层析(OCT)成像技术应用于古代陶瓷无损检测,将OCT图像表现的釉面的断面特征用于古代陶瓷类别区分的可行性,利用宽波长频域OCT成像系统对选自5个窑口的8个不同釉系、色系的瓷片进行测试,得到了样品的断面结构图像,并分析了OCT图像中的气泡大小和分布、强散射颗粒分布、釉层均匀性、透射率、釉层的分层等特征。实验结果显示8个古代瓷釉样品OCT成像特征差异明显,说明OCT成像技术能基于断层图像特征对瓷釉的釉系、窑口进行区分。 |
| 关 键 词： | 测量 光学相干层析 无损成像 瓷釉 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |