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MOCVD侧向外延生长GaN的研究
引用本文:朱丽虹,李晓莹,刘宝林.MOCVD侧向外延生长GaN的研究[J].微细加工技术,2008(6).
作者姓名:朱丽虹  李晓莹  刘宝林
作者单位:厦门大学物理系,福建,厦门,361005
基金项目:国家自然科学基金,国家高技术研究发展计划(863计划),福建省科技项目 
摘    要:在低压金属有机化学气相沉积(LP-MOCVD)系统中利用侧向外延生长(epitaxial lateral overgrowth,ELO)技术进行了二次外延GaN的研究.SEM观察结果表明,翼区和窗口区宽度比值不同的图形衬底,侧向和纵向的生长速率不同;其AFM表面形貌图像表明,长平的ELO-GaN表面平整,位错密度较低.ELO-GaN的光致发光(PL)谱的带边峰比传统方法生长的GaN的带边峰红移了14.0 meV,表明ELO-GaN的应力得到部分释放,晶体质量提高.ELO-GaN和普通外延GaN的拉曼散射谱比较表明,ELO-GaN中的应力较小,晶体质量较高,A1(TO)模的出现说明其晶轴取向相对于(0001)方向发生微小的偏移.

关 键 词:低压金属有机化学气相沉积  氮化镓  侧向外延生长  原子力显微镜  扫描电子显微镜  拉曼散射谱

Study of Epitaxial Lateral Overgrowth GaN by MOCVD
ZHU Li-hong,LI Xiao-ying,LIU Bao-lin.Study of Epitaxial Lateral Overgrowth GaN by MOCVD[J].Microfabrication Technology,2008(6).
Authors:ZHU Li-hong  LI Xiao-ying  LIU Bao-lin
Affiliation:ZHU Li-hong,LI Xiao-ying,LIU Bao-lin(Dept.of Phys.,Xiamen University,Xiamen 361005,China)
Abstract:
Keywords:LP-MOCVD  GaN  epitaxial lateral overgrowth  AFM  SEM  Raman scattering  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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