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硅点阵常数精确测定及系统误差处理
引用本文:赵宝明,兰绍鹏.硅点阵常数精确测定及系统误差处理[J].鞍山钢铁学院学报,1996,19(5):5-7.
作者姓名:赵宝明  兰绍鹏
作者单位:基础部
摘    要:精确测定点阵常数是研究结晶材料的重要方法之一,对于研究相变过程、晶体的缺陷和应力状态等均有重要意义。本实验除对晶体硅的点阵常数进行了精确测定外,仪器的系统误差对测定精度的影响也进行了测量、分析,并对测量结果给予了修正。

关 键 词:点阵常数  精确测定  误差  晶体硅
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