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杂志ISSN号
硅点阵常数精确测定及系统误差处理
作者姓名:
赵宝明 兰绍鹏
作者单位:
基础部
摘 要:
精确测定点阵常数是研究结晶材料的重要方法之一,对于研究相变过程、晶体的缺陷和应力状态等均有重要意义。本实验除对晶体硅的点阵常数进行了精确测定外,仪器的系统误差对测定精度的影响也进行了测量、分析,并对测量结果给予了修正。
关 键 词:
点阵常数 精确测定 误差 晶体硅
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