| ITS9000系列超大规模集成电路测试系统检定方法 |
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| 引用本文： | 沈森祖,石坚. ITS9000系列超大规模集成电路测试系统检定方法[J]. 计测技术, 2000, 0(3): 12-14 |
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| 作者姓名： | 沈森祖 石坚 |
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| 作者单位： | 武汉数字工程研究所,湖北省武汉市武昌74223信箱,430074 |
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| 摘 要： | 以ITS9000MX超大规模集成电路测试系统为背景，系统地研究了ITS9000系列测试系统的检定方法，重点描述了它的基本思想，原理和关键技术。
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| 关 键 词： | 检定 校准 测试系统 ITS9000MX 超大规模集成电路 |
Study on Verification Method of ITS9000 Series VLSI Test System |
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| Shen Senzu,Shi Jian. Study on Verification Method of ITS9000 Series VLSI Test System[J]. Metrology & Measurement Technology, 2000, 0(3): 12-14 |
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| Authors: | Shen Senzu Shi Jian |
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| Abstract: | The verification method of ITS9000 series VLSI test system based on ITS9000MX VLSI test system is introduced in the paper,and its basic thought,principles and the key technologies are described |
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| Keywords: | Verification Calibration Test system. |
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