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数字测试交换格式数据的应用与开发
引用本文:贺喆,林志文,李杨. 数字测试交换格式数据的应用与开发[J]. 计算机测量与控制, 2006, 14(9): 1153-1155
作者姓名:贺喆  林志文  李杨
作者单位:海军电子设备维修测试研究中心,北京,102442;海军电子设备维修测试研究中心,北京,102442;海军电子设备维修测试研究中心,北京,102442
摘    要:为解决数字测试可交换格式(DTIF)数据难以阅读理解和依赖数字自动测试程序生成器(ADTPG)的难题,通过对IEEE标准1445—1998和IEEE标准1546-2000进行深入分析和研究,提出了“数字测试交换格式应用与开发软件”的实现方法;经实际应用表明.该软件不仅实现了DTIF数据的直观表达和编辑生成等功能以有效地解决了上述问题,而且可以作为数字电路测试诊断数据开发的辅助手段,对于提高数字测试程序的开发效率和可移植性具有显著的意义。

关 键 词:数字测试可交换格式  IEEE标准1445-1998  应用与开发  数字电路  测试诊断数据
文章编号:167I-4598(2006)09-1153-03
收稿时间:2005-12-20
修稿时间:2006-01-05

Application and Development for Digital Test Interchange Format
He Zhe,Lin Zhiwen,Li Yang. Application and Development for Digital Test Interchange Format[J]. Computer Measurement & Control, 2006, 14(9): 1153-1155
Authors:He Zhe  Lin Zhiwen  Li Yang
Abstract:The digital test interchange format (DTIF) data is unreadable > and also is generated only by digital auto test program generator (DATPG). To resolve this problem , the IEEE std 1445-1998 and the IEEE std 1546 - 2000 are deeply analyzed and researched , and the realization methods of Application and Development Software for Digital Test Interchange Format is then proposed. After the actual application of this software tool , the intricate DTIF data can be visibly analyzed and easily understood, and the DTIF test and diagnosis data can be directly edited and finally generated without the DATPG. It is concluded that this tool can be used as a development assistance for the test and diagnosis data of digital circuit and the development efficiency and rehostabiliy of digital test program will be greatly improved.
Keywords:DTIF   IEEE std 1445-1998   application and development   digital circuit   test and diagnosis data  
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