| 电容屏ITO电路缺陷自动检测光照研究 |
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| 引用本文： | 刘向阳,刘志军,姜长城,全燕鸣. 电容屏ITO电路缺陷自动检测光照研究[J]. 机床与液压, 2016, 44(10): 41-44. DOI: 10.3969/j.issn.1001-3881.2016.10.013 |
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| 作者姓名： | 刘向阳 刘志军 姜长城 全燕鸣 |
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| 作者单位： | 1. 广州航海学院,广东广州,510725;2. 华南理工大学,广东广州,510641 |
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| 基金项目： | 2014年广东省教育厅科技创新项目(2013KJCX0195)，广东省省级科技计划项目(2013B090600052) |
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| 摘 要： | ITO材料与玻璃基板的透射与反射系数相近而使高速扫描CCD很难采集到高对比度图像,电容触摸屏的ITO电路上下双层结构使光源倾角与相机倾角不平行时照明光经过多次透射与反射后会出现无序叠加。采用光源倾角与相机倾角平行的透射照明方式能避免光强无序叠加,并能提高玻璃基板图像和ITO图像的对比度,光照强度优化实验表明:光强较弱时CCD曝光不足将导致图像过暗并存在横向条纹干扰,随光强增大图像灰度直方图双峰现象凸显,在光照等级达到200时达到最佳,之后变化不明显。
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| 关 键 词： | 缺陷检测 线阵CCD ITO电路 图像对比度 |
Design of Imaging System for PCTP ITO Pattern Defect Automatic Detection |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Defect detection Line-scan CCD ITO pattern Image contrast |
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