| 基于TCL语言和边界扫描技术的存储器测试脚本设计 |
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| 引用本文： | 陆颖莹,谈恩民. 基于TCL语言和边界扫描技术的存储器测试脚本设计[J]. 桂林电子科技大学学报, 2012, 0(4): 320-324 |
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| 作者姓名： | 陆颖莹 谈恩民 |
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| 作者单位： | 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 |
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| 摘 要： | 为了提高存储器的边界扫描测试软件的通用性,提出一种基于TCL语言及边界扫描技术的存储器测试脚本设计方案。结合存储器测试理论及边界扫描逻辑簇测试技术,研究基于TCL脚本语言的存储器测试脚本设计方法,用以在进行存储器簇测试时描述存储器自身的读写特性及与其外部边界扫描测试单元的连接关系等,并给出HY6264SRAM静态存储器功能测试的例子。通过测试验证,使用TCL脚本语言与高级语言联合编程能够提高边界扫描测试软件的工作效率。
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| 关 键 词： | TCL脚本 存储器测试 边界扫描测试 |
Design of memory test script based on TCL language and boundary scan test |
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| Lu Yingying,Tan Enmin. Design of memory test script based on TCL language and boundary scan test[J]. Journal of Guilin University of Electronic Technology, 2012, 0(4): 320-324 |
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| Authors: | Lu Yingying Tan Enmin |
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| Affiliation: | (School of Electronic Engineering and Automation,Guilin University of Electronic Technology,Guilin 541004,China) |
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| Abstract: | |
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