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采用探针卡片实现多路测试

作者姓名：	李光宇

作者单位：	国营风光电工厂

摘要：	采用探针卡片测试,是半导体器件中测的必由之路。目前国内无法制造,引进半导体设备的一些厂家配套引进一批探针卡片,均需付出几十倍的专利费。为节约外汇,我们自己动手,摸出了一套符合我国国情的制
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