| E2PROM失效故障分析 |
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| 引用本文： | 刘冰,孙爱中,谢涛. E2PROM失效故障分析[J]. 电子科技, 2013, 26(9): 71-73,77 |
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| 作者姓名： | 刘冰 孙爱中 谢涛 |
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| 作者单位： | (中国航空计算技术研究所 第6研究室,陕西 西安 710068) |
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| 摘 要： | 在计算机的使用中,发现E2PROM芯片出现数据丢失问题,导致计算机无法正常工作。通过对E2PROM的失效分析,其结果表明,故障的原因是芯片失效所致。经试验验证分析,确定该E2PROM器件存在芯片某流片生产批次工艺参数RRPOLY较差,影响上电复位电路的工作状态,造成部分芯片在上电过程中出现数据丢失问题。另外在E2PROM筛选中添加了非易失性测试,发现并解决了E2PROM早期失效问题。验证试验表明该措施的有效性和可行性。
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| 关 键 词： | E2PROM 失效分析 超差 |
Failure Analysis of E2PROM SM9968 |
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| LIU Bing , SUN Aizhong , XIE Tao. Failure Analysis of E2PROM SM9968[J]. Electronic Science and Technology, 2013, 26(9): 71-73,77 |
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| Authors: | LIU Bing SUN Aizhong XIE Tao |
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| Affiliation: | (Research Section 6,Institute of Chinese Aeronautical Computing Technique,Xi'an 710068,China) |
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| Abstract: | It was found in use that the E2PROM chip loses data,for which reason the computer cannot work normally.A thorough analysis shows that the reason of the chip's failure is that the technological parameters "RRPOLY" exceeds tolerance.A solution is proposed by introducing a hard-lost test in stress screening.Validation tests show that this measure is feasible and effective. |
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| Keywords: | E2PROM failure analysis exceeding tolerance, |
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