用精密凯尔文双桥测量耗散因素和1法以下的电容 |
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作者姓名: | 王素闰 |
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摘 要: | 在最近发表的一篇文章中介绍了一种交流电桥,供在50~1000赫频率范围内测量1毫微法至1毫法的电容值,精度为百万分之几。本文表明,若使1法以下的电容具有百万分之几、的比较精度,不仅高电位标准引线馈电的主比率臂,而且低电位引线馈电的凯尔文比率臂也必须进行复分量调整。因而,或应分压器(IVD)的同相误差以及90。相移误差不应超过1×10~(-7)数量级。采用一种适宜的器件,使主比率臂和凯尔文比率臂的IVD的比率相耦合将有利于这种调整。
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