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专利技术
摘    要:顶板结构变化与离层测定方法(申请号:200610066020·4)一种顶板结构变化与离层测定方法,其特征在于:在现场巷道任一断面内,同时打设两个相同直径和深度的观测钻孔。其中一个为深部位移测量钻孔,用以测量不同深度岩层总位移;另一个为窥视钻孔,用以观测岩层结构变化与离层值,通过

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