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分类号
杂志ISSN号
电子元件的故障现象和可靠性试验
作者姓名:
越川清重
徐素霞
作者单位:
日·松下电器产业株式会社
摘 要:
最近对于可靠性试验的咨询和要求越来越多。其理由大致归纳为三种:(1)因为是新试制品,对于怎样确认其可靠性还没有先例;(2)为了在短时间内做出可靠性评价而要求进行加速试验;(3)评价可靠性的元件因价格很高不能以较多的数量进行试验。总之,是如何保证可靠度的问题。
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