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硅烷偶联剂在二氧化硅基片表面吸附膜的形貌
引用本文:蔡楚江,沈志刚,邢玉山,麻树林.硅烷偶联剂在二氧化硅基片表面吸附膜的形貌[J].材料研究学报,2007,21(3):261-266.
作者姓名:蔡楚江  沈志刚  邢玉山  麻树林
作者单位:北京航空航天大学,北京市粉体技术研究开发重点实验室,北京,100083;北京航空航天大学,北京市粉体技术研究开发重点实验室,北京,100083;北京航空航天大学,北京市粉体技术研究开发重点实验室,北京,100083;北京航空航天大学,北京市粉体技术研究开发重点实验室,北京,100083
基金项目:国家自然科学基金 , 北京市教委共建项目
摘    要:使用原子力显微镜(AFM)观测了吸附在二氧化硅基片表面的硅烷偶联剂薄膜的形貌.结果表明,在气相法吸附过程中偶联剂是以分子形态吸附在基片表面,而在液相法吸附过程中偶联剂是以分子聚合体的形态吸附在基片表面,因此通过气相法吸附在基片表面的吸附膜比通过液相法吸附在基片表面的吸附膜光滑.硅烷偶联剂在二氧化硅基片表面有化学吸附和物理吸附两种模式,吸附了硅烷偶联剂薄膜的基片表面呈现出一定的疏水性.

关 键 词:有机高分子材料  硅烷偶联剂  气相法  吸附  原子力显微镜
文章编号:1005-3093(2007)03-0261-06
修稿时间:2006-09-112007-02-05

Topography investigation of silane coupling agent films adsorbed on substrate
CAI Chujiang,SHEN Zhigang,XING Yushan,MA Shulin.Topography investigation of silane coupling agent films adsorbed on substrate[J].Chinese Journal of Materials Research,2007,21(3):261-266.
Authors:CAI Chujiang  SHEN Zhigang  XING Yushan  MA Shulin
Affiliation:Beijing Key Laboratory for Powder Technology Research and Development, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100083
Abstract:
Keywords:organic polymer materials  silane coupling agent  vapor phase deposition  adsorption  atomic force microscopy(AFM)
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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