基于深度智能视觉的表面缺陷检测研究进展 |
| |
引用本文: | 高艺平,王浩,李新宇,高亮.基于深度智能视觉的表面缺陷检测研究进展[J].工业工程,2024(2):27-36+66. |
| |
作者姓名: | 高艺平 王浩 李新宇 高亮 |
| |
作者单位: | 华中科技大学机械科学与工程学院 |
| |
基金项目: | 国家自然科学基金资助项目(52205523); |
| |
摘 要: | 基于深度智能视觉的表面缺陷检测研究在制造业中起着越发重要的作用,本文阐述深度智能视觉的表面缺陷检测在现代工业质检中的重要性,对现有研究进展进行梳理总结。深度智能视觉以机器视觉和深度学习为技术基础,为不同工业场景提供高精高效的表面缺陷检测算法。本文从检测细粒度的角度将表面缺陷检测分为表面缺陷分类、定位、分割检测3个部分,并分别对分类、定位、分割方法进行系统综述,梳理现有表面缺陷检测研究的问题和思路。分类检测针对数据和缺陷图形特征问题进行研究,因其基础性和易拓展性于不同工业场景的应用呈现分散发展;定位检测以模型框架、矩形框检测和标注成本为主要问题,表现出追求轻量化和特征融合机制的研究趋势;分割检测更关注图像细节特征。通过研究分类、定位、分割的多任务模型框架以探索分类、分割检测之间的互补性。最后总结目前表面缺陷检测研究存在的问题,并对发展趋势进行展望。
|
关 键 词: | 表面缺陷检测 缺陷分类 缺陷定位 缺陷分割 |
|
|