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| 纳米级低开销SEU免疫型XC Domino动态门 | |
| 引用本文： | 张金艺,唐夏,周荣俊,李娟娟,张秉煜. 纳米级低开销SEU免疫型XC Domino动态门[J]. 微电子学与计算机, 2013, 30(2) |
| 作者姓名： | 张金艺 唐夏 周荣俊 李娟娟 张秉煜 |
| 作者单位： | 1. 上海大学微电子研究与开发中心,上海 200072;上海大学特种光纤与光接入网省部共建教育部重点实验室,上海 200072;上海大学教育部新型显示与系统应用重点实验室,上海 200072 2. 上海大学微电子研究与开发中心,上海,200072 3. 上海大学特种光纤与光接入网省部共建教育部重点实验室,上海,2000723 |
| 基金项目： | 上海市科委国际合作项目基金，上海市教委重点学科建设基金 |
| 摘 要： | 在纳米级工艺条件下,高速运算单元核心部件XC Domino动态门面临严重的软错误问题.本文提出一种适用SEU类软错误容错设计的免疫型XC Domino动态门,此免疫型动态门借鉴了锁存器单元稳定结构,对于动态门的输出端实施P-type扩散区隔离以完成SEU的防护.通过Spectre电路仿真,验证了SEU免疫型动态门能够实现对于高达2倍Vdd振幅电压脉冲干扰的SEU类软错误容错；另外,与传统XC Domino动态门容错设计方案相比,免疫型动态门能够降低13.64％的门延时,并能在减少47.37％面积开销的同时降低75.54％功耗开销. |
| 关 键 词： | 单粒子翻转 交叉耦合多米诺动态门 容错设计 软错误 低开销 |
Nano-Scale Cost Effective SEU Immune XC Domino Dynamic Gate |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
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